为解决欧盟各国石棉暴露评估方法差异导致的测量结果不可比问题，研究人员开展了多国联合研究，比较相位对比显微镜(PCM ...

扫描电镜(SEM)使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品，并收集散射的电子，放大再成像对样品表面或者断口形貌进行观察和分析。 透射电镜(TEM) 而透射电镜(TEM)是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所成的物像，因此，透射电镜(TEM)观察的是 ...

SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上，透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构。 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的 ...